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絕緣電阻隨溫度上升而減小，泄漏電流隨溫度增大而上升，介質(zhì)損失隨溫度變化比較復(fù)雜，可能增大也可能減小。濕度增大使絕緣電阻減小，絕緣表面泄漏電流增大，介質(zhì)損耗增大。
一、絕緣電阻（兆歐表）
1、溫度的影響
溫度對(duì)絕緣電阻的影響很大，一般絕緣電阻是隨溫度的上升而減小的。當(dāng)溫度升高后，絕緣介質(zhì)中的極化加劇，電導(dǎo)增加，致使電阻值降低，并與溫度的變化程度以及絕緣材料的性質(zhì)和結(jié)構(gòu)等有關(guān)。因此測(cè)量絕緣電阻時(shí)必須記錄溫度，以便將其換算到同一溫度進(jìn)行比較。
2、濕度的影響
絕緣表面吸附潮氣，瓷套表面形成水膜，常使絕緣電阻明顯降低，當(dāng)空氣中相對(duì)濕度較大時(shí)會(huì)吸收較多的水分，增加了電導(dǎo)，也使絕緣電阻值降低。
二、泄漏電流（直流高壓發(fā)生器）
1、溫度的影響
直流泄漏試驗(yàn)與絕緣電阻試驗(yàn)一樣，溫度對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響十分顯著。隨著溫度的上升，泄漏電流增加。
2、濕度的影響
泄漏電流有表面泄漏電流和體積泄漏電流之分，我們要測(cè)量的是體積泄漏電流。在惡劣的氣候、表面臟污、受潮的條件下，設(shè)備表面泄漏電流很大，甚至超過體積泄漏電流，致使泄漏電流試驗(yàn)結(jié)果不準(zhǔn)確。此時(shí)必須采用屏蔽方法，以消除表面泄漏電流對(duì)泄漏電流試驗(yàn)的影響。
三、介質(zhì)損耗（高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀）
1、溫度的影響
介質(zhì)損耗與溫度關(guān)系較為復(fù)雜，在溫度較低時(shí)電導(dǎo)損耗和極化損耗都很小。隨溫度升高因偶極子轉(zhuǎn)向容易，從而使極化損耗顯著增加，電導(dǎo)損耗略有增加。在某一溫度下，總的介質(zhì)損耗達(dá)到極大值，當(dāng)溫度繼續(xù)升高時(shí)分子熱運(yùn)動(dòng)妨礙偶極子在電場(chǎng)作用下規(guī)則排列，極化損耗減小。在此階段雖然電導(dǎo)損耗仍然是增加的，但增加的程度比極化損耗減少的程度小，所以總效果減小。隨著溫度進(jìn)一步升高電導(dǎo)損耗急劇增大，總的損耗此時(shí)以電導(dǎo)損耗為主，也隨之急劇增大，這種情況tanδ隨溫度的變化趨勢(shì)和電介質(zhì)損失率隨溫度的變化一致。
2、濕度的影響
空氣中相對(duì)濕度增大會(huì)使絕緣設(shè)備表面泄漏電流增加，由于絕緣設(shè)備表面泄漏電流是阻性電流，因而導(dǎo)致tanδ增大，長(zhǎng)期濕度過高還容易導(dǎo)致絕緣受潮，從而引起tanδ變大。
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